| 展會名稱 | National Instruments 美商國家儀器台灣分公司 半導體元件測試研討會 |
| 展會地區 | 亞洲 |
| 展會國家 | 台灣 |
| 展會城市 | 新竹 |
| 展會日期 | 2014-03-18 |
| 參展攤位 | |
| 參觀人數 | |
| 活動網址 | http://bit.ly/1hkase4 |
半導體產品的測試從工程驗證、設計驗證到最後的產線量產，每個階段使用的測試設備不同，不但增加實質的測試成本，無形中花費的人力、時間成本更是難以計算。
電源量測器 (Source Measurement Unit, SMU) 是常用於高精度半導體元件 I-V 參數曲線量測，如何做到精確的量測，找到藏在細節裡的魔鬼，確實有許多需要注意的地方。
本活動除了豐富的講座內容，同時也將展出新推出專為半導體元件如 LED, PMIC, RFIC 等測試所量身打造的高速四象限 SMU，同時帶您認識一個更有競爭力的半導體測試的平台解決方案。
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活動名稱：2014 半導體元件 測試研討會 活動日期：2014年3月18日 星期二 活動地點：新竹 喜來登大飯店 |
| 時間 | 主題 | 講者 |
| 09:00 | 報到 | |
| 09:30 | 開場致詞 | NI |
| 09:50 | 透過 SMU 進行精確 I-V 與 DC 參數量測 | Joey Tun |
| 10:40 | 中場休息 | |
| 11:00 | 成功案例分享 -- 高速 LED 多點測試 | 順英科技 |
| 11:30 | 成功案例分享 – MEMS 高效能測試 | 宏相科技 |
| 12:00 | 午休 (大會提供午餐) | |
| 13:30 | 適合從設計驗證到量產的最新半導體測試平台 | Joey Tun |
| 14:30 | 中場休息 | |
| 14:50 | 為您的量測應用選擇正確的示波器 | NI |
| 15:40 | 幸運抽獎時間 |
活動焦點
立即前往報名 >>http:http://bit.ly/1hkase4
