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產 品 分 類
經 營 模 式
  • 經營模式: 生產加工
  • 主營: 測試設備
產品價格(美元/US$) 所在地
中國 廣東省 深圳市
發佈日期:2012-06-07 有效期限:不限

集成電路高溫動態老化系統 Send inquiry

製造商 深圳市帕特騰飛科技有限公司

 

集成電路高溫動態老化系統o:p>

font size="3">產品詳情br /> 符合標準:GJB548(等同MIL-STD-883)、GJB 597(等同MIL-M-38510br /> font color="#000000" size="3">適用範圍:br /> 適用於對各種數字、模擬、數模混合集成電路和SOC電路、微處理器、存儲器等微電子電路進行高溫動態老化試驗。br /> font color="#000000" size="3">工作特性:
一板一區工作方式,最多可同時進行16種規格、批次的器件進行篩選試驗,適應多品種、小批量。
br /> font color="#000000" size="3">超溫報警裝置,確保溫度條件安全施加。br /> font color="#000000" size="3">可檢測各組電源工作情況及試驗箱溫度並描繪其與時間相關的曲線。br /> font color="#000000" size="3">軟體全編輯信號產生方式,可滿足包括存儲器在內的多種集成電路器件的動態老化要求。br /> 集成的用戶軟體包基於WINDOWS平台開發,功能完備並有良好的可擴展性。br />  主從式RS485全雙工高速串列通訊介面,遠距離通訊能力強,數據傳輸安全可靠。br /> font color="#000000" size="3"> 試驗容量和系統分區可根據實際情況另行配置。br />  試驗箱可選擇兩個小型試驗箱,每個試驗箱裝8塊老化板,可同時進行兩個溫度條件的試驗。br />  可提供專用調式台,具備獨立的DUT試運行介面和維修介面,方便試驗前或試驗中對DUT和老化板進行試驗狀態檢查。o:p>

電子電路進行高溫動態老化試驗。o:p>

 技術性能:

  o:p>

ELEA-Vo:p>

ELEH-Vo:p>

系統分區o:p>

16區(標準)

試驗容量o:p>

208×16(以DIP14計)

/

試驗溫度o:p>

最高150℃

數字信號路數o:p>

每板64

每板8

數字信號o:p>

每路可獨立編輯信號的數據、地址、控制、三態特性;信號最高頻率:2MHz;最小編程解析度100ns,最小編程步長100ns;編程深度256k;信號幅度程式控制範圍:2.0V18.0V;最大定址深度:64G;數字信號可採用直接輸入、字元輸入、程序輸入三種方法編程;

模擬信號o:p>

多路多種類模擬信號發生單元及驅動電路,最高頻率可達1MHz;最大驅動電流:1A;信號幅度Vpp20V;直流偏移量:01/2Vpp

試驗狀態監測o:p>

64路信號示波監測介面;寬範圍數字、模擬信號頻率自動測試、記錄;二級電源電壓監測;

二級電源電流、信號峰值監測(可選)o:p>

通訊速率o:p>

500K

二級電源o:p>

可程式控制VCCVMUXVEE

輸出能力:2V18V/10A

具備灌電流能力;o:p>

2組正電源:VCC1+2V~+36V)、VCC2+2V~+36V);

2組負電源:VEE1-2V~-36V)、VEE2-2V~-36V);電流為最大10A

具有過流、過壓及過熱保護功能;

電源要求o:p>

輸入:AC380V,50Hz,三相(220V單相可選);

整機功率:8kW以下

整機功率:12kW以下

   o:p>

500kg

  外形尺寸    (寬××深)o:p>

1313mm×1950mm×1350mm

o:p>