| 產品價格(美元/US$) | 所在地 |
| 台灣 | |
| 發佈日期：2010-10-06 | 有效期限：不限 |
•領先業界採用積分球來測試mcd, 實現”平均”光強度測試
•收光穩定度大幅提升; 提高正位夾定位誤差容忍度
•Top view LED 旋轉180度色座標完全不會受影響
•色座標誤差<0.002; 800~15000 mcd範圍誤差<3%(靜態)
•超高速測試速度, 電性X3, 光性X1, 測試時間<55mS (Int. time 20mS)
•支援雙站測試, 單晶測試時間30mS, 三晶RGB為90mS,業界最快 •萬用BIN表(選配), 最多可以產生2000個 BIN(使用動態分BIN)
