展會名稱 National Instruments 美商國家儀器台灣分公司 半導體元件測試研討會
展會地區 亞洲
展會國家 台灣
展會城市 新竹
展會日期 2014-03-18
參展攤位
參觀人數
活動網址 http://bit.ly/1hkase4

 

半導體產品的測試從工程驗證、設計驗證到最後的產線量產,每個階段使用的測試設備不同,不但增加實質的測試成本,無形中花費的人力、時間成本更是難以計算。

電源量測器 (Source Measurement Unit, SMU) 是常用於高精度半導體元件 I-V 參數曲線量測,如何做到精確的量測,找到藏在細節裡的魔鬼,確實有許多需要注意的地方。

本活動除了豐富的講座內容,同時也將展出新推出專為半導體元件如 LED, PMIC, RFIC 等測試所量身打造的高速四象限 SMU,同時帶您認識一個更有競爭力的半導體測試的平台解決方案。

 

活動資訊

  活動名稱:2014 半導體元件 測試研討會

  活動日期:2014年3月18日 星期二

  活動地點:新竹 喜來登大飯店

   

活動議程

 

時間 主題 講者
09:00 報到  
09:30 開場致詞 NI
09:50 透過 SMU 進行精確 I-V 與 DC 參數量測 Joey Tun
10:40 中場休息  
11:00 成功案例分享 -- 高速 LED 多點測試 順英科技
11:30 成功案例分享 – MEMS 高效能測試 宏相科技
12:00 午休 (大會提供午餐)  
13:30 適合從設計驗證到量產的最新半導體測試平台 Joey Tun
14:30 中場休息  
14:50 為您的量測應用選擇正確的示波器 NI
15:40 幸運抽獎時間  
                                                                                                                                  
                                                                                                  *主辦單位保有修改議程之權利

 

活動焦點

  • 特邀在半導體領域具有多年 DC、混合訊號量測經驗的國外專家 Joey Tun 提供專業現場諮詢與技術分享
  • 最新的半導體測試平台,目睹 PXI 儀器如何化身為從 R&D 驗證道量產測試通用的平台
  • 現場將呈現 LED 與 MEMS 量測產業應用實機展示

 

立即前往報名 >>http:http://bit.ly/1hkase4

RSS RSS      print 列印