據外媒報導，日本光偵測器製造商 Hamamatsu Photonics（濱松光子）開發了一個高速檢測系統，可在晶圓上快速檢測 Micro LED 晶片的品質。

據悉，該檢測系統名為 MiNY PL，採用光致發光測試技術（PL）來檢測LED晶片外表、發光強度和波長的異常問題，所用光致發光測試技術是基於濱松光子的圖像處理技術和新開發的成像模組。

濱松光子表示，MiNY PL 系統在檢測 Micro LED 晶片時能夠快速判斷晶片是否合格，這有利於提升顯示用 Micro LED 產品的良率及 Micro LED 的研發效率。

此外，MiNY PL 系統將簡化未來 Micro LED 量產產線上 100% 的檢測過程。

無獨有偶，日前也有消息透露，蘋果正在開發 Micro LED 檢測系統，並且已經獲得相關專利。

蘋果的系統是在 Micro LED 晶片轉移至顯示面板之前對晶片品質進行檢測並精准定位，目的同樣是降低缺陷率和生產製程的損失，從而提高顯示屏的可靠性，保證產品品質。

Micro LED 尺寸微縮化，晶片使用數量和轉移接合過程的工作量都大幅增加，若晶片缺陷率過高，就會降低後續製程的生產良率，增加返修工作量和整體成本。因此，從檢測晶片品質等前端製程開始把控生產良率尤為關鍵，但這也是 Micro LED 產業的難點之一。

為此，不少設備商加大對 Micro LED 檢測設備的研發力度，目前進度不一。不管具體細節如何，眼下相關消息表明了晶片質檢環節已有所突破，這對於 Micro LED 產業來說，是一大利好消息。

（作者：LEDinside Janice；首圖來源：濱松光子）