美商國家儀器於7/20舉辦LED多點測試機與測試研討會

LED 多點測試機與測試研討會

在 LED 廣泛用於液晶電視背光模組以及照明的趨勢下,近兩年 LED 的需求呈現高速成長,各家LED大廠都以擴充MOCVD機台為主要擴充產能的方式,2011年全球的 LED產量約有1000億顆,在這麼大的產量下,如何提升產能及降低測試成本已成為許多LED廠商的主要課題。

一般LED廠商的空間並沒有隨著產能等比成長,因此相同的空間 (footprint) 與人力的配置下若能最大可能的降低測試時間便能提升產出,降低測試時間的方法不外乎以下三種:

流程自動化

降低量測的耗時

多點同時測試

降 低量測的耗時是最容易達成的一個項目,只要購買最好最快的儀器就可以達到,但一個LED完整的測試過程中,最花時間的往往不是這個部分,通常在於機構動 作、儀器設備間的同步交握時間以及人工的操作;因此若能將光機電各個項目整合起來,減少每一段流程的等待與消耗就能大幅提升測試速度。

而多點量測一直是業界持續在進行的項目,但往往受限於量測儀器與切換器之間的延遲以及不同位置的待測物校正問題一直無法很順利的整合。為此,美商國家儀器(National Instruments)與順英科技合作開發LED自動化多點測試機,並將於2011年7月20日 下午1:30 在新竹科學園區 科技生活館舉辦 LED 多點測試研討會。

在 此多點LED測試系統中,不論是順逆向電流、SCR 現象、靜電放電測試等電學特性,或是亮度、峰值波長、主波長、光譜半高波寬 (FWHM)、色度座標 (CIE)等光學特性,皆可同時做到多顆 LED測試,並維持單點測試相同的精準度,欲知活動詳情,請洽03-657-6222#7131 張先生。

報名網頁

http:http://goo.gl/9Ngd2


圖1:NI 與順英科技合作開發的LED 多點自動測試機


圖2:透過 NI LabVIEW 開發的 LED 多點自動測試機軟體操作畫面
 

RSS RSS     print 列印         announcements 線上投稿        
【免責聲明】
1、「LEDinside」包含的內容和資訊是根據公開資料分析和演釋,該公開資料,屬可靠之來源搜集,但這些分析和資訊並未經獨立核實。本網站有權但無此義務,改善或更正在本網站的任何部分之錯誤或疏失。
2、任何在「LEDinside」上出現的資訊(包括但不限於公司資料、資訊、研究報告、產品價格等),力求但不保證資料的準確性,均只作為參考,您須對您自主決定的行為負責。如有錯漏,請以各公司官方網站公佈為準。
【版權聲明】
「LEDinside」所刊原創內容之著作權屬於「LEDinside」網站所有,未經本站之同意或授權,任何人不得以任何形式重制、轉載、散佈、引用、變更、播送或出版該內容之全部或局部,亦不得有其他任何違反本站著作權之行為。